【低維結(jié)構(gòu)探針線站】  

低維結(jié)構(gòu)探針(Low-Dimension Structure Probe)線站是一條插入件線站，以表面X射線散射為核心方法，分析低維材料與器件的結(jié)構(gòu)及其動態(tài)變化。它采用IVU插入件作為光源，采用一條光束線串聯(lián)兩個實驗站的設(shè)計，前實驗站(EH1)開展多環(huán)境下的X射線散射實驗，核心設(shè)備是一臺6+3圓衍射儀，配備多種小型樣品環(huán)境，提供共振和非共振的表面衍射、反射、CTR分析、倒易空間繪制(RSM)、表面PDF、掠入射XPCS等X射線散射方法，后實驗站(EH2)開展超高真空下的表面散射原位結(jié)構(gòu)分析實驗，核心是一套“SXRS+HMBE+RHEED+GIXPCS+XRR”原位結(jié)構(gòu)探針集成裝置，其中的混合MBE腔可從衍射儀上推走，換成用戶自己的原位樣品制備腔體。  

負責(zé)人：王煥華（010-88235994 wanghh@ihep.ac.cn）