Band Offset Measurements in Atomic-Layer-Deposited Al2O3/Zn0.8Al0.2O Heterojunction Studied by X-ray Photoelectron Spectroscopy
- 聯(lián)系作者：
- 刊物名稱：NANOSCALE RESEARCH LETTERS
- 所屬學科：
- 作者：Yan, BJ; Liu, SL; Heng, YK et al.
- 發(fā)表年度：2017
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- 論文類別：
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