Synchrotron beam test of a photon counting pixel prototype based on Double-SOI technology
- 聯(lián)系作者：
- 刊物名稱：JOURNAL OF INSTRUMENTATION
- 所屬學(xué)科：
- 作者：Zhou, Y; Lu, Y; Hashimoto, R et al.
- 發(fā)表年度：2017
- 卷：
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