Real-time soft error testing system for large-area QDR II plus SRAM array on the Tibetan Plateau
- 聯(lián)系作者：
- 刊物名稱(chēng)：MICROELECTRONICS RELIABILITY
- 所屬學(xué)科：
- 作者：Tong, T; Zhang, ZG; Wei, CF et al.
- 發(fā)表年度：2019
- 卷：
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- 論文類(lèi)別：
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