Investigating the large signal phenomenon in single photo-electron measurements of the 20-inch MCP-PMT
- 聯(lián)系作者：
- 刊物名稱：JOURNAL OF INSTRUMENTATION
- 所屬學科：
- 作者：Yang, A; Qin, Z; Wang, Z et al.
- 發(fā)表年度：2023
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- 論文類別：
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