一種基于透射靶動態(tài)掃描的電子束微焦點射線源成像系統(tǒng)
- 英文名稱:An electron beam micro-focus ray source imaging system based on dynamic scanning of transmission target
- 專利號:ZL 202420130622.5
- 專利類別:實用新型
- 專利證書號:
- 申請?zhí)枺?/span>CN202420130622.5
- 發(fā)明人:魏存峰; 阮玉芳; 周俊光; 黃歡; 卓立偉; 楊雄斌
- 其它發(fā)明人:
- 申請日期:2024-01-19
- 授權日期:2024-09-03