一種基于雙刃邊掃描的高精度波前檢測方法及裝置
- 英文名稱：A high-precision wavefront detection method and device based on double-edge scanning
- 專利號：ZL 202310493238.1
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202310493238.1
- 發(fā)明人：李明; 劉方; 楊俊亮; 李凡; 李哲; 張常睿; 洪振; 刁千順
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2023-05-05
- 授權(quán)日期：2024-07-23
