一種強電離輻射環(huán)境下的溫度測量方法及系統(tǒng)
- 英文名稱：The invention relates to a temperature measuring method and system under strong ionizing radiation environment
- 專利號：ZL 201810442429.4
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201810442429.4
- 發(fā)明人：楊俊亮; 張小威; 趙越; 朱曄; 李瑭
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2018-05-10
- 授權(quán)日期：2024-02-13
