一種用于中子散射的樣品測量定位系統(tǒng)
- 英文名稱：A sample measurement positioning system for neutron scattering
- 專利號：ZL 202321004243.3
- 專利類別：實用新型
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202321004243.3
- 發(fā)明人：陳潔; 譚志堅; 王聲翔; 余朝舉; 鄭海彪; 楊陸峰
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2023-04-28
- 授權(quán)日期：2023-10-27
