專利
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一種微區(qū)XRF元素分析與多維成像方法及系統(tǒng)

  • 英文名稱:A micro-XRF elemental analysis and multidimensional imaging method and system
  • 專利號(hào):ZL 202211266940.6
  • 專利類別:發(fā)明授權(quán)
  • 專利證書號(hào):
  • 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN202211266940.6
  • 發(fā)明人:許瓊; 魏存峰; 舒巖峰; 劉躍東; 王逸凡
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請(qǐng)日期:2022-10-17
  • 授權(quán)日期:2023-05-12
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