一種高溫超導帶材窄面彎曲性能測量裝置
- 英文名稱：The invention relates to a device for measuring the bending property of a narrow surface of a high-temperature superconducting strip
- 專利號：ZL 202221686217.9
- 專利類別：實用新型
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202221686217.9
- 發(fā)明人：王娟; 徐慶金; 陳新; 馮傲; 王瑩哲; 石金瑞
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2022-07-01
- 授權(quán)日期：2023-01-10
