基于離子束高次電離原理的X射線光束位置信息探測器
- 英文名稱：The invention discloses an X-ray beam position information detector based on an ion beam higher ionization principle
- 專利號(hào)：ZL 202111105812.9
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202111105812.9
- 發(fā)明人：張小威; 楊福桂; 石泓
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2021-09-22
- 授權(quán)日期：2022-11-04
