一種多層膜勞埃透鏡的離線表征方法
- 英文名稱：The invention relates to an off-line characterization method of a multilayer film Lauer lens
- 專利號：ZL 202110857771.2
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202110857771.2
- 發(fā)明人：岳帥鵬; 周亮; 常廣才; 冀斌
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2021-07-28
- 授權(quán)日期：2022-08-23
