專利
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一種基于標(biāo)記物成像的探測器偏轉(zhuǎn)校正方法

  • 英文名稱:The invention discloses a detector deflection correction method based on marker imaging
  • 專利號:ZL 202011458637.7
  • 專利類別:發(fā)明授權(quán)
  • 專利證書號:
  • 申請?zhí)枺?/span>CN202011458637.7
  • 發(fā)明人:許瓊; 鄭玉爽; 魏存峰; 劉雙全; 袁路路; 魏龍
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請日期:2020-12-11
  • 授權(quán)日期:2022-06-07
地址:北京市918信箱 郵編:100049 電話:86-10-88235008 Email:ihep@ihep.ac.cn
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