積分型像素陣列探測(cè)器的刻度方法、裝置、介質(zhì)及設(shè)備
- 英文名稱：Scale method of integral type pixel array detector Device, medium and equipment
- 專利號(hào)：ZL 202011055874.9
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN202011055874.9
- 發(fā)明人：周楊帆; 謝亮; 李秋菊; 劉鵬; 李貞杰; 丁葉
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2020-09-29
- 授權(quán)日期：2021-08-24
