一種基于三維層析成像的快速缺陷檢測方法
- 英文名稱：Rapid defect detection method based on three-dimensional tomography
- 專利號：ZL 201810394521.8
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201810394521.8
- 發(fā)明人：劉寶東; 魏存峰; 袁路路; 李默涵; 魏龍
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2018-04-27
- 授權(quán)日期：2021-05-25
