衛(wèi)星有效載荷整星正樣階段性能測(cè)試的測(cè)試架及測(cè)試方法
- 英文名稱：Test rack and test method for performance test of satellite payload whole-star positive sample stage
- 專利號(hào)：ZL 201910278447.8
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201910278447.8
- 發(fā)明人：張愛梅; 文向陽(yáng); 張童; 盧方軍
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2019-04-03
- 授權(quán)日期：2020-12-08
