基于先進(jìn)光源原位成像的超高周疲勞損傷試驗(yàn)系統(tǒng)
- 英文名稱：Ultra-high cycle fatigue damage test system based on advanced light source in-situ imaging
- 專利號(hào)：ZL 201910523647.5
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201910523647.5
- 發(fā)明人：吳圣川; 吳正凱; 鮑泓翊璽; 謝成; 胡雅楠; 劉宇杰; 康國(guó)政; 王清遠(yuǎn); 何超; 付亞楠; 肖體喬; 李可; 錢桂安; 洪友士; 袁清習(xí)
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2019-06-17
- 授權(quán)日期：2020-06-19
