專利
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一種利用雙能衍射測量應變分布的方法及裝置

  • 英文名稱:Method and device for measuring strain distribution by utilizing double-energy diffraction
  • 專利號:ZL 201910807183.0
  • 專利類別:發(fā)明授權
  • 專利證書號:
  • 申請?zhí)枺?/span>CN201910807183.0
  • 發(fā)明人:易棲如; 張杰; 黎剛; 王艷萍; 姜曉明
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請日期:2019-08-29
  • 授權日期:2020-06-16
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