一種X射線微分相位襯度顯微鏡系統(tǒng)及其二維成像方法
- 英文名稱：X-ray differential phase contrast microscope system and two-dimensional imaging method thereof
- 專利號：ZL 201610617865.1
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201610617865.1
- 發(fā)明人：朱佩平; 張凱; 袁清習(xí); 黃萬霞; 朱中柱
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2016-07-29
- 授權(quán)日期：2019-08-13
