一種測量光在探測器里平均反射步長的方法
- 英文名稱：Method for measuring average reflection step size of light in detector
- 專利號(hào)：ZL 201710397900.8
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201710397900.8
- 發(fā)明人：李秀榮; 肖剛; 左雄; 馮少輝; 李驄; 王玲玉; 程寧
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2017-05-31
- 授權(quán)日期：2019-07-23
