一種傳感器設(shè)備低溫測試臺(tái)
- 英文名稱：Sensor equipment low temperature testboard
- 專利號(hào)：ZL 201711267545.9
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201711267545.9
- 發(fā)明人：米正輝; 沙鵬; 賀斐思; 翟紀(jì)元
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2017-12-05
- 授權(quán)日期：2019-07-09
