一種大面積PMT的電耦合掃描測(cè)試裝置和方法
- 英文名稱：A large area of the PMT is electrically coupled to the scan test apparatus and method
- 專利號(hào)：ZL 201610084029.1
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201610084029.1
- 發(fā)明人：錢森; 夏經(jīng)鎧
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2016-02-06
- 授權(quán)日期：2019-07-02
