正電子湮沒(méi)壽命譜測(cè)量方法及系統(tǒng)
- 英文名稱：The positive module internal measurement method and system
- 專利號(hào)：ZL 201710448229.5
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201710448229.5
- 發(fā)明人：韓振杰; 況鵬; 劉福雁; 王寶義; 張鵬; 王英杰; 曹興忠
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2017-06-14
- 授權(quán)日期：2019-06-28
