用于正電子湮沒壽命譜測量的方法、系統(tǒng)以及閃爍探測器
- 英文名稱：For the positive electronic difference along the method, system and scintillation detector
- 專利號：ZL 201610847307.4
- 專利類別：發(fā)明授權
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201610847307.4
- 發(fā)明人：王寶義; 況鵬; 王英杰; 章志明; 姜小盼; 曹興忠; 魏龍
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2016-09-23
- 授權日期：2019-03-15
