正電子發(fā)射斷層掃描儀及其中的符合判選方法
- 英文名稱：Positron emission tomography scanner and in the judging method
- 專利號：ZL 201210133393.4
- 專利類別：發(fā)明授權
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201210133393.4
- 發(fā)明人：豐寶桐; 魏書軍; 魏龍; 馬創(chuàng)新; 李可; 胡婷婷; 孫蕓華; 王培林; 李曉輝; 燕新強; 胡選侯; 杜垚垚; 李國仁
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2012-04-28
- 授權日期：2015-09-02
