一種獲得高品質(zhì)薄膜樣品X射線吸收譜的方法
- 英文名稱：Method for obtaining high-quality X-ray absorption spectrum of thin film sample
- 專利號：ZL 201210591180.6
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201210591180.6
- 發(fā)明人：張靜; 陳棟梁; 安鵬飛; 宋冬燕; 謝亞寧; 胡天斗
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2012-12-28
- 授權(quán)日期：2015-02-25
