魏微
- 類別： 研究員
- 研究方向：
魏微研究員多年來從事核電子學(xué)及其專用集成電路芯片設(shè)計(jì)與研究，在多通道、低噪聲、高密集度前端讀出芯片設(shè)計(jì)上有豐富經(jīng)驗(yàn)。目前為中科院高能所實(shí)驗(yàn)物理中心電子學(xué)組副組長(zhǎng)，是高能所專用集成電路研究的領(lǐng)軍人物。參加高能同步光源（HEPS）、江門中微子實(shí)驗(yàn)(JUNO)、環(huán)形正負(fù)電子對(duì)撞機(jī)（CEPC）預(yù)研等多項(xiàng)大科學(xué)工程，具有豐富的工程研究與設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)。主要研究方向?qū)Ｗ⒂谙袼仃嚵刑綔y(cè)器專用讀出芯片設(shè)計(jì)，特別是針對(duì)同步輻射光源和自由電子激光應(yīng)用的二維X射線像素陣列探測(cè)器，解決先進(jìn)探測(cè)器的關(guān)鍵“卡脖子”問題。主導(dǎo)完成國(guó)內(nèi)首臺(tái)單光子計(jì)數(shù)型X射線二維像素陣列探測(cè)器樣機(jī)，專家成果鑒定一致認(rèn)為該樣機(jī)實(shí)現(xiàn)了我國(guó)硅像素二維陣列探測(cè)器研制方面的一個(gè)重要突破，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)空白。在CEPC環(huán)形正負(fù)電子對(duì)撞機(jī)頂點(diǎn)探測(cè)器預(yù)研中，主導(dǎo)TaichuPix芯片的設(shè)計(jì)，將作為頂點(diǎn)探測(cè)器樣機(jī)的關(guān)鍵單元。作為發(fā)起人之一，推動(dòng)中國(guó)核學(xué)會(huì)核電子學(xué)與核探測(cè)技術(shù)分會(huì)微電子專委會(huì)成立，并擔(dān)任專委會(huì)副主任委員。
- 學(xué)歷： 博士研究生
- Email： weiw@ihep.ac.cn
- 地址： 北京市石景山區(qū)玉泉路19號(hào)乙
- 郵編： 100049
魏微，博士，研究員。2005.07畢業(yè)于中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理電子專業(yè)，獲理學(xué)學(xué)士學(xué)位；同年獲中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)技術(shù)專業(yè)工學(xué)學(xué)士學(xué)位（雙學(xué)位）；2010.07畢業(yè)于中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所核技術(shù)及應(yīng)用專業(yè)，獲工學(xué)博士學(xué)位；2010.07~2012.07中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所實(shí)驗(yàn)物理中心助理研究員；2012.07~2018.07中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所實(shí)驗(yàn)物理中心副研究員；2018.07至今，中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所實(shí)驗(yàn)物理中心研究員，博士生導(dǎo)師；目前擔(dān)任中科院高能所實(shí)驗(yàn)物理中心電子學(xué)組組長(zhǎng)，中科院高能所學(xué)術(shù)委員會(huì)委員。
The TSV Process in the Hybrid Pixel Detector for the High Energy Photon Source，Nucl. Inst. Meth. A, 2019, Zhang J, Ding Y, Wei W*, et al.
2. HEPS-BPIX2, The hybrid pixel detector upgrade for high energy photon source in China, Nucl. Inst. Meth. A, 2019, Zhang J, Li H, Wei W*, et al.
3. HEPS-BPIX, a single photon counting pixel detector with a high frame rate for the HEPS project, Nucl. Inst. Meth. A, 2016, Wei W, Zhang J, Ning Z, et al.
4. HEPS-BPIX, a hybrid pixel detector system for the High Energy Photon Source in China, Journal of Instrumentation, 2017, Zhang J, Wei W, Gu J, et al.
5. A High Frame Rate Test System for the HEPS-BPIX based on NI-sbRIO Board, IEEE Trans. Nucl. Sci., 2017, Gu J, Zhang J, Wei W, et al.
