深空探測X射線譜儀定標設(shè)備
- 英文名稱：
- 專利號：ZL 200820080543.9
- 專利類別：外觀設(shè)計
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>200820080543.9
- 發(fā)明人：高旻、汪錦州、王煥玉、張承模、崔興柱、彭文溪、曹學(xué)蕾、張家宇、楊家衛(wèi)、梁曉華
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2008-05-14
- 授權(quán)日期：2008-05-14
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