7月20日上午8:00，中國散裂中子源（CSNS）圓滿結(jié)束本輪運(yùn)行，開始首次暑期檢修。本輪運(yùn)行CSNS取得了一系列重要成果。
2017年8月底，CSNS首次打靶成功獲得中子束流后，進(jìn)入試運(yùn)行階段。在加速器開展各種機(jī)器研究的基礎(chǔ)上，打靶束流功率不斷提高，目前質(zhì)子打靶束流脈沖重復(fù)頻率穩(wěn)定運(yùn)行在25Hz，平均束流功率超過20kW，靶站已連續(xù)穩(wěn)定運(yùn)行超過4600小時(shí)，首期三臺譜議已完成10個用戶單位16個研究組的21個用戶樣品實(shí)驗(yàn)。2018年4月17日，CSNS首篇用戶實(shí)驗(yàn)結(jié)果科學(xué)論文在線發(fā)表于Nano Energy（影響因子12.34）；6月14日，第二篇論文在國際能源領(lǐng)域頂級期刊Energy Storage Materials 雜志（影響因子13.31）上在線發(fā)表。這兩篇文章得到了國際同行的高度評價(jià)，并表明CSNS粉末衍射譜儀的性能達(dá)到國際先進(jìn)水平。
與此同時(shí)，反角白光中子實(shí)驗(yàn)終端也圓滿完成了首批實(shí)驗(yàn)，包括束流特征測量系列實(shí)驗(yàn)、芯片輻照效應(yīng)實(shí)驗(yàn)、探測器標(biāo)定實(shí)驗(yàn)和快中子照相實(shí)驗(yàn)等，累積實(shí)驗(yàn)機(jī)時(shí)2075小時(shí)。應(yīng)用型實(shí)驗(yàn)包括華為公司等單位的半導(dǎo)體芯片大氣中子環(huán)境失效效應(yīng)的多批次共200多個樣品的測試。
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