硅漂移探測(cè)器讀出電子學(xué)ASIC芯片設(shè)計(jì)廢標(biāo)公告
采購(gòu)人名稱：中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所
采購(gòu)人地址：北京市石景山區(qū)玉泉路19號(hào)乙院
項(xiàng)目名稱：硅漂移探測(cè)器讀出電子學(xué)ASIC芯片設(shè)計(jì)
項(xiàng)目編號(hào)：IHEP-DK-ZB-114/2018
采購(gòu)方式：競(jìng)爭(zhēng)性磋商
磋商公告發(fā)布日期：2018年1月29日
標(biāo)書發(fā)售時(shí)間：2018年1月29日~2018年2月2日
廢標(biāo)時(shí)間：2018年2月5日
廢標(biāo)原因：截至磋商文件索取截止時(shí)間索要磋商文件的潛在供應(yīng)商不足3家。
聯(lián)系人：王文萍
聯(lián)系電話：010-88236304
中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所
2018年2月7日
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